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| Industrie & Produktion | 18.05.2012 |
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| DIA-MESTAT | |
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 | | Aufbau Testsystem DIA-MESTAT Foto: sekas |
Frei konfigurierbares Testsystem ohne Codeerstellung
27.04.2006 (Presse) Mit DIA-MESTAT stellt die SEKAS GmbH ein neues System zum Test elektronischer Systeme, Geräte und Baugruppen in der Entwicklung, Produktion oder Wartung vor. Der Clou: Individuelle Mess- bzw. Testaufbauten können aus vorgefertigten Elementen zusammengestellt und im Drag- and Drop-Verfahren zum gewünschten Messaufbau zusammengefügt werden.
Durch die intuitive Bedienbarkeit sind keine Programmierkenntnisse des Anwenders erforderlich. Neben Elementen für die Messung, Darstellung und Archivierung stehen auch Elemente für vielfältige Auswertungen zur Verfügung. Kundenspezifische Auswerteelemente können individuell von uns oder vom Anwender selbst mittels Development Kits erstellt werden. Die Messtechnik ist nicht produktspezifisch gebunden.
DIA-MESTAT reduziert die Kosten für die Prüfprogramm-Entwicklung und -Dokumentation. Die durchgängig grafische Entwicklung der Tests und Teststrategien erlaubt eine effiziente Nutzung von DIA-MESTAT. Dadurch werden die Prüfalgorithmen gut verständlich und nahezu selbst-dokumentierend.
Das Produkt ermöglicht die Entwicklung von Prüfungen auf zwei Ebenen. Auf der unteren Ebene wird zunächst der einzelne Testaufbau (Test) entwickelt. Auf der logisch übergeordneten Ebene werden diese Tests zu Testabläufen (Teststrategie) zusammengesetzt, die den Gesamtablauf definieren.
Die Möglichkeit zur Wiederverwendung von Tests und führt zu einer weiteren Effizienzsteigerung in der Prüfprogramm-Entwicklung und -Wartung. Ein integriertes Qualitätsmanagement-System, das die Ergebnisse der durchgeführten Prüfungen entgegen nimmt und aussagekräftige Auswertungen der Qualitätsdaten zur Verfügung stellt sowie die garantierte Hardware-Unabhängigkeit runden die Neuentwicklung ab. |
Quelle: Pressemitteilung (Presse) |
Quelle: SEKAS GmbH | |
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